
电子显微镜
蔡司 GeminiSEM 高端场发射扫描电镜
出色的样品灵活性
- 高图像质量和多功能性
- 高级成像模式
- 高效检测,出色分析
- 历经25余年完善的蔡司Gemini技术
- 探测器种类繁多,覆盖范围广
该系统可实现高通量分析,同时在低电压、高速度和高探头电流条件下提供出色的分辨率。其观察视野开阔,腔体极为宽敞,即使是大型样品也能轻松检测。
ZEISS GeminiSEM具有两个截然相反的EDS端口和共面EDS/EBSD配置,可提供高效的化学成分和晶体取向表征。您可以信赖高速无影映射。
自定义并自动执行工作流:如果您需要测试材料的技术极限,蔡司可为您提供自动原位加热和机械应力实验室。
机械、光学和电子元件的失效分析
断裂分析和金相分析
表面、微观结构和器件表征
成分和相位分布
杂质和夹杂物测定
自动重构晶界的平面测量法
采用截距法和各种不同的测量网格,对谷物边界交叉点进行交互式检测和计数
利用对比图进行人工图像评估的对比方法
ZEISS ZEN Intellesis软件使用机器学习算法和预先训练的模型来识别异相和晶界。只需点击一下,即可选择实例分割模型和要分割的类。
结果视图包含所有图像和分析结果。同时还显示了原始图像。您可以通过清晰的表格视图和粒度分布条形图查看所有分析结果。
利用电子显微镜,我们可以看到,在考虑其他生产因素的情况下,NCM变体之间存在结构差异。从截面看,811的原生颗粒比532或111小得多。只有通过蔡司电子显微镜特色的功能——能量选择背散射(EsB)探测器,才能看到这种亚晶粒结构的极佳材料对比。
更好的电解质成分可减少阴极材料的物理磨损。通过更出色的化学工艺,可以生产出颗粒更大的阴极材料。
锂离子电池单元:EDX元素分布图
堆叠式锂离子电池截面:EDS图谱(O、Al、F、Si和C)。可以使用能量色散X射线谱(EDS)来确认显微镜中研究对象的元素组成。
正如预期,该图像证实老化样品的阴极一侧存在大量残余氟。氟存在于电解液中,并与随着老化而增加的SEI层结合在一起。玻镁石分离器显示出铝和氧信号,符合预期。碳在粘合剂中用作导电剂。由于隔膜的聚合物是碳氢化合物,这意味着整个电池中都能看到碳。
材料分析:利用人工智能分割进行粒度分析
粒度和分布与材料特性直接相关。根据国际标准量化材料的晶体结构。您可以使用三种评估方法来表征样品:
自动重构晶界的平面测量法
采用截距法和各种不同的测量网格,对谷物边界交叉点进行交互式检测和计数
利用对比图进行人工图像评估的对比方法
ZEISS ZEN Intellesis软件使用机器学习算法和预先训练的模型来识别异相和晶界。只需点击一下,即可选择实例分割模型和要分割的类。
结果视图包含所有图像和分析结果。同时还显示了原始图像。您可以通过清晰的表格视图和粒度分布条形图查看所有分析结果。