Gemini镜内检测概念通过检测二次电子（SE）和/或背向散射电子（BSE）来确保高效的信号检测，从而最大限度地缩短成像时间。Gemini光束增强器技术保证了探测器的小尺寸和高信噪比。
您可以利用全新的检测技术对所有样品进行表征。利用新型ETSE探测器和高真空模式下的InLens探测器，来收集高分辨率地形信息。使用VPSE或C2D探测器在变压模式下获取清晰图像。利用STEM探测器生成高分辨率传输图像，并用HDBSD或YAG探测器调查成分。
材料和制成部件的失效分析
钢和金属的成像与分析
医疗器械的检测
过程控制和诊断中的半导体和电子设备表征
新型纳米材料的高分辨率成像和分析
涂层和薄膜分析
各种形式的碳和其他二维材料的表征
聚合物材料的成像、分析和区分
开展电池研究，了解老化效应和质量改进
关联自动颗粒分析
从制造清洁度和发动机磨损预测到钢铁生产、环境管理和增材制造，蔡司电子显微镜提供的颗粒分析解决方案可使您的工作流自动化并提高重复精度。
无缝内置工作流中的光学和电子显微镜关联分析
自动内置光学/电子显微镜报告
准确定位污染源
更快做出明智决策
不断提高生产质量
更快获得结果:自动分析取代连续的单独分析，利用内置的机器学习算法更快地进行颗粒检测和测试
微塑料颗粒分析的多模态关联成像
ZEISS ZEN Intellesis通过机器学习实现颗粒识别。可以通过功能强大的ZEISS ZEN Connect软件访问结果。随后，ZEISS ZEN Intellesis根据机器学习图像分割和对象分类，进一步深入了解颗粒的分布情况。
对于扫描电镜图像(1)，图像分析用于分割所有颗粒(2)并测量所选特征。例如，测量结果能够以粒度分布的形式显示。Intellesis Object Classification用于对分割后的颗粒进一步分类，并将其分为不同的子类型(3)。利用这些信息可以计算出每种类型的颗粒数。使用ZEISS Sigma对聚碳酸酯滤光片上的标准纳米和微塑料颗粒(聚苯乙烯(PS，浅蓝色)、聚乙烯(PE，绿色)、聚酰胺-尼龙6(PA，深蓝色)和聚氯乙烯(PVC，红色))进行分类。这项相关研究结合了电子显微镜的高分辨率和拉曼显微镜的分析能力。
