
光学三维测试
蔡司 ARAMIS Adjustable
用于二维和三维分析的模块化测量系统
- 可模块化扩展
- 可单独配置
- 可灵活适应测量任务
ARAMIS Adjustable可作为一个完整的套件提供,也可根据要求对系统进行单独配置。如对光学三维测量系统的要求有所增加,硬件组件可通过模块化概念进行添加和组合。这意味着,只需添加第二个相机,便能轻松地将二维传感器扩展为三维系统,从而形成一个全面的系统解决方案。
该系统配有一个二维和一个三维传感器,适用于对静态或动态应力部件和材料进行全场分析和基于点的分析。不同的测量体积和距离意味着传感器可以灵活地用于不同测量任务。因此,该系统非常适合从事各种应用研究的研究所和大学。
连续数据流的测量、分析和测量报告:每个ARAMIS系统均配备了ZEISS INSPECT Correlate软件,可在整个测试过程中为您提供支持。该软件采用数字图像相关和点跟踪算法,能以应变、位移或速度的形式提供高度准确的表面变化测量结果。
三种不同型号的相机,分辨率高达2400万像素,可直接安装在传感器上的可变照明解决方案,以及多种可能的测量体积:ARAMIS Adjustable传感器采用模块化设计,可选择多种组件,使系统能够适应任何测量任务。
相机型号
ARAMIS Adjustable共有三款标准相机,像素在1200万到2400万之间,帧频在25到2000 fps之间,适用于研究、开发和工业领域的众多应用。如需2000 fps以上的图像记录速度,可使用高速相机进行记录。
传感器概念
该设备设计灵活,镜头可调,相机和测量距离可变,可在规定的测量体积内进行大范围测量。
质量认证
ARAMIS传感器的质量和性能通过了标准化验收程序的验证。验收程序以VDI准则2634-1和2626为基础,是交付流程必备的一部分。客户会收到所购传感器的验收证书、所用光学栅尺的DAkkS证书以及详细的工艺说明。
ARAMIS Controller
ARAMIS Controller是ARAMIS系统的重要组成部分,负责将传感器集成至测试环境。通过硬件组件,可轻松编程用户定义的测量流程,进行多传感器设置,并对外部测量信号(如力、温度或电压)进行图像同步信号记录。
探针
如除表面测量外还需进行三维接触测量,则需要使用探针。探针由ARAMIS系统进行光学跟踪,可在难以用光学方法进入的区域采集坐标和标准几何形状,如平面、直线和圆孔中心。