蔡司METROTOM 1

3D X射线系统

蔡司METROTOM 1

一次扫描,深入洞察 快速、直观且高度精确

ZEISS METROTOM 1为您工作的快速推进保驾护航:无需对零件进行任何预处理,即可采集精确的3D数据。借助计算机断层扫描技术,您可以对零件进行无损扫描并查看内部结构。能够测量、分析和检验隐蔽缺陷及内部结构。与ZEISS INSPECT软件结合使用,达到了简化质量控制流程的新境界。
  • 主动平衡温度,实现精确测量结果
  • ZEISS INSPECT为您提供数字化引导,以获得最佳效果
  • 测量结果非常精确,每种应用的要求各不相同
服务热线: 400-816-2811 在线留言
    Advantages

    产品优势

    蔡司METROTOM 1

    系统结构紧凑、操作简便,可为您采集任务数据

    该系统操作简便,各类用户都可以通过该系统开启测量过程,并获取精确的数据。METROTOM 1体积小巧,可轻松适配您的空间。只需按下按钮,即可在机构内部开始测量和检查。这款智能、紧凑型解决方案配备了封闭式X射线管,旨在降低维护成本。

    蔡司METROTOM 1

    无需对零件进行任何预处理即可采集3D数据

    您可以使用METROTOM 1进行无损扫描,检验内部结构和缺陷。无需对零件进行任何预处理,即可开始测量过程。在扫描下一个零件时,可同时对上一个零件进行检验或逆向工程。

    蔡司METROTOM 1

    多零件扫描、检查内部结构和缺陷

    多零件扫描

    同时测量多个零件是METROTOM 1最高效的功能之一。规则很简单:最大程度地利用测量体积,实现大批量测量。结果:在确保测量效果的同时,缩短了每个零件的扫描时间。ZEISS INSPECT可自动分离和评估各个零件,从而快速提供测量结果报告。

    检查内部结构和缺陷

    METROTOM 1搭载的ZEISS INSPECT软件可指导您逐步完成测量过程。凭借体积可视化以及对扫描数据的检验功能,您可以了解零件的所有尺寸,包括隐藏部分的尺寸信息。通过对零件内部和外部结构的扫描,可以轻松对零件进行逆向工程处理。

    既简单又高效。仅需一次扫描。METROTOM 1可为您提供以下支持:

    对中小型部件进行3D扫描

    精确测量

    质量检验和保证

    对废品进行深入分析

    对照CAD检查相应的部件

    蔡司METROTOM 1

    智能一体化概念

    电压、功率、曝光时间和步数是计算机断层扫描(CT)的一些重要测量参数。ZEISS METROTOM 1在运行过程中,会依托ZEISS INSPECT自动确定这些参数值。软件可为您提供最佳起始值,从而降低扫描设置的复杂度。METROTOM 1以操作简便、采集速度快和评估功能直观为立足之本。一体化概念值得信赖。

    Specification

    规格参数

    类型
    METROTOM 1
    X射线源
    160 kV
    X射线探测器(像素)
    2.5 k (2,500 x 2,500)
    测量体积
    165 x 140 mm
    计量规格(MPE SD)
    5 µm +L/100
    尺寸
    1750 mm(宽)x 1820 mm(高)x 870 mm(深)
    重量
    2100 kg
    软件
    ZEISS INSPECT
    体素尺寸
    低至 32.6 µm
    Software

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