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ZEISS Xradia 515 Versa X
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工业CT测量

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ZEISS Xradia 515 Versa X

发布日期: 2021-08-30 21:46:46 阅读量: 217

蔡司X射线显微镜Xradia515Versa突破3D成像和原位/4D研究的微米级分辨率的成像壁垒。其高分辨率、高衬度以及灵活的工作距离下成像能力的组合,拓展了实验室无损成像能力。蔡司Xradia515Versa得益于两级放大的架构,可实现大工作距离下亚微米级分辨率成像(RaaD)。减少对单级几何放大的依赖性,在大工作距离下依然保持了亚微米级分辨率。优势即使在距射线源较大的工作距离(从毫米到厘米)下

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