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ZEISS Xradia Context microCT
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工业CT测量

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ZEISS Xradia Context microCT

发布日期: 2021-08-30 21:45:19 阅读量: 137

蔡司XradiaContext是一种大视场,非破坏性3DX射线微型计算机断层扫描系统。借助强大的平台和灵活的软件控制源/探测器定位,您可以在完整的3D环境中对大型,重型(25kg)和高样本进行成像,以及具有高分辨率和细节的小样本。获取完整的电子元件,大型原材料样品或生物样品的3D数据。执行非破坏性故障分析,以识别内部缺陷,而无需切割样品或工件表征和量化材料中的性能定义异质性,如孔隙率,裂缝,夹杂物

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