
光学三维自动化解决方案
ZEISS ABIS III
智能工厂的自动表面检测
- 高速表面检测
- 全自动、高效、节省资源
- 循环时间内的过程监控
传统的表面检测方法(如用磨石处理表面)需要花费大量时间,而且取决于相关用户。这种主观检测可能会导致客户与供应商之间产生分歧,进而引发投诉、索赔或代价高昂的分类或返工任务。使用ZEISS ABIS III传感器,其高达20 Hz的快速缺陷检测率免去了人工和主观的质量保证过程。这一资源节约型系统可持续自动提供专用返工、快速表面分析和高效工艺优化所需的数据库。
不折不扣的ZEISS ABIS III表面检测系统将高速检测与可靠的缺陷检测相结合,符合100%原则:对生产的所有部件、整个表面和所有相关缺陷类型进行100%检测。其中一大技术亮点是新开发的MCL模块。获得专利的多色光技术能够检测出细微的缺陷类型。
结合ZEISS ABIS V20软件,可在几秒钟内检测出表面特征,并根据各个企业标准的规格进行评估。该软件可实时显示凹痕、凸起、波纹、颈缩和滑线等缺陷类型,并将检测结果以数字化形式存储在数据库中。因此,客户可以随时获得并检索质量证书。对已确定的缺陷热点进行评估有助于快速进行根本原因分析,并在此基础上确定有针对性的纠正措施。