如果您想获得良好的结果，稳定性是必不可少的。Axio Imager 2 具有稳定的成像条件，尤其是在高放大倍率或进行时间依赖性研究时。由于 Axio Imager 2 的电动化，可快速获得可重复的结果，同时始终在恒定条件下工作。
无论是在学术还是工业研究中，材料显微镜都面临着各种挑战。使用 Axio Imager 2，您将能够迎接并赢得这些挑战。连接特定于应用的组件并执行颗粒分析等作。研究非金属夹杂物 （NMI）、液晶或基于半导体的 MEM。使用共聚焦或相关显微镜的专用解决方案扩展您的仪器。
使用不同的对比技术检查一系列材料，例如金属、复合材料或液晶。
使用反射光，在明场、暗场、微分干涉对比 （DIC）、圆微分干涉对比 （C-DIC）、偏振或荧光中观察样品。
使用透射光，在明场、暗场、微分干涉对比 （DIC）、偏振或圆偏振中检查样品。对比度管理器可确保可重复的照明设置。
对比鲜明的技术选择
铸铁与球晶石墨，抛光样品，相同的相同部位，使用不同的对比技术成像（视场 265 μm）。图片：由 H.-L. 博士提供 Steyer，德国 Kesselsdorf。
人类工程学 与您的表面一样多面
Axio Imager.Z2m 或 Axio Imager.M2m 在触摸屏上显示关键作功能，让您能够轻松控制所有电动组件。额外的控制按钮位于对焦驱动器周围，符合人体工程学，具有触觉表面，使其易于区分。Axio Imager.D2m 具有 5 个预编程按钮，而 Axio Imager.Z2m 具有 10 个用户可定义的按钮。Axio Imager.A2m 已编码。
热显微镜 灵活记录温度变化
您想研究温度如何影响金属、晶体、陶瓷或塑料的行为吗？
使用 ZEN core 和 Linkam 加热阶段，您可以定义加热或冷却实验。在延时序列中记录温度模式。您获得的结果是每个延时图像中温度和真空数据的日志。观察加热或冷却过程中的样品变化，例如在质量控制领域。
