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蔡司X射线显微镜—Xradia 600 Versa系列上市！

发布日期： 2021-08-19 13:20:25 阅读量： 36

蔡司XradiaVersa系列又发布了2款新型优秀商品—Xradia610Versa和Xradia620VersaX射线显微镜。蔡司XradiaVersa可以在全输出功率和工作电压范畴内更迅速地对试品开展高质量显像，且不容易危害屏幕分辨率和饱和度。

蔡司VersaX射线显微镜凭着大工作中间距高像素（RaaD）的特点，变成了科学研究工作人员和生物学家的“强有力助手”。在相对性大工作中间距下也可以维持超高像素，有利于科学研究看法和发觉。伴随着现如今技术性的迅速发展趋势，对分析仪也明确提出了高些的规定，而蔡司Xradia600Versa系列便是专为解决这一挑戰而设计方案的。

蔡司Xradia610&620Versa选用改善的灯源和光学技术

X射线电子计算机断层扫描显像行业遭遇的两个挑戰是：完成大规格试品和大工作中间距下的高像素和高通量测序显像。蔡司发布的2款X射线显微镜凭着下列优点解决了这种挑戰：系统软件可给予大功率的X射线源，明显提升 X射线扩散系数，进而加速了断层扫描速率。工作效能提升达二倍，并且不容易危害空间分辨率。与此同时，X射线灯源的可靠性获得提高，使用期限也更长。

关键特点包含：

✔高空间分辨率500nm，小体素40nm

✔与蔡司Xradia500Versa系列对比，工作效能提升二倍

✔更为简单实用，包含迅速激话源

✔可以在很大的工作中间距下对更广的试品种类和规格的试品开展亚微米特点的观查

优秀科学研究和工业生产行业的大量运用将因而而获益

这2款主要用途普遍的仪器设备能够为不一样行业的科研院所和工业生产顾客产生高些的工作效能和使用价值，助推她们的科学研究和探寻。

凭着RaaD特点，蔡司XradiaVersa在大工作中间距下也可以确保超高像素，而且可以对放置在自然环境实验舱底或高精密原点载入设备中的样版开展显像。这能够让管理科学科学研究工作人员在可控的自然环境标准下为高质量的方法表现原材料的3D外部经济构造，以研究不一样原点标准下（如加温或拉压）导致的危害。

伴随着全世界电力能源原材料要求展现爆发式提高，工业生产科学研究工作人员必须剖析这种原材料在好几个固相和高效液相环节的繁杂多物理学场个人行为以及有关的构造演化。蔡司Xradia600Versa系列可以协助科学研究工作人员分析这种构造的形状以及在工作中标准下的个人行为。这种根据RaaD技术性的X射线显微镜能够对详细的软包电池和圆柱型充电电池开展高像素显像，进而为数百次蓄电池充电脆化效用的科学研究给予适用。

新型蔡司Xradia620Versa可以对试品完成高质量亚微米级高像素显像

在电子器件和半导体业中，客户经常会为了更好地加工工艺开发设计、合格率提升开展构造和失效分析，并对优秀的半导体封装开展结构特征。蔡司Xradia600Versa系列能够根据高质量显像开展封裝商品的缺点剖析，如：Bumps或Microbumps中的裂痕、焊接材料湿润难题或TSV埋孔构造。在物理学失效分析（PFA）以前对缺点开展三维可视化，降低人为因素物理学切成片引进的错觉缺点，进而提升失效分析的通过率。

在增材领域中，3DX射线显微镜在从粉末状到零件的全部步骤的多道工艺过程中充分发挥着关键功效。典型性运用包含：科学研究粉末状床中颗粒物的实际样子、规格和容积遍布，以明确适合的加工工艺主要参数。蔡司Xradia600Versa系列具备高些的工作效能和結果高效率，完成高效率的工作内容。

在原料研究领域中，客户会开展多尺度的孔隙度结构特征，包含原点液体流动性剖析。全新升级蔡司XradiaVersaX射线显微镜以迅速的运作速率为数据岩样仿真模拟、根据试验室的透射衬度断层扫描显像和多尺度显像等给予更的三维纳米技术限度显像，进而降低科学研究前后左右对接短板限定。

在生物科学行业，蔡司Xradia600Versa系列可完成更快、更高像素的显像，让科学研究工作人员可以科学研究皮下组织（如神经组织、毛细血管互联网、细胞膜的结构、肌腱和神经系统）、人体骨骼的矿物质机构及其植物结构（如根和细胞膜的结构）。

▲新型蔡司Xradia620Versa可以对试品完成高质量亚微米级高像素显像

持续改善和可升級性

蔡司X射线显微镜致力于根据与时俱进和发展趋势开展升級和拓展，以维护大家顾客的权益。那样能够保证伴随着前沿科技的不断发展，显微镜技术性也可以往前发展趋势，从蔡司XradiaContextmicroCT到蔡司Xradia500/510/520Versa，再到现在增加的蔡司Xradia610/620Versa，客户都能够将系统更新至X射线显微镜。

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